聯系我們  |  網站地圖  |  English   |  移動版  |  中國科學院 |ARP
站內搜索:
首頁 簡介 管理部門 科研部門 支撐部門 研究隊伍 科研成果 成果轉化 研究生教育 黨建與創新文化 科普 信息公開 OA系統
檢測項目
綜合化學分析
原子光譜和質譜
X射線熒光
輝光放電質譜
X光電子能譜
液相和氣相色譜質譜
紅外光譜
X射線衍射
拉曼光譜
原子力顯微鏡
三維X射線顯微鏡(CT)
掃描電鏡
透射電鏡
熱學性能
力學性能
電學性能
現在位置:首頁>支撐部門>無機材料分析測試中心>檢測項目
測試項目
測 試 項 目
測 試 內 容
成分分析
化學定量分析、陰離子-電化學分析、碳硫含量分析、氮氧含量分析、真密度分析、粒度分析等
指定元素定性分析、未知樣品的半定量分析、定量分析等
等離子體發射光譜(ICP-OES)和等離子體質譜(ICP-MS)定性、半定量和定量分析;原子吸收光譜(AAS)定量分析。
固體樣品的痕量元素分析
成分表面分析,價態分析,多層膜深度剖析
適用于常見化合物、農藥、環境污染物、違禁添加物、化學污染物等殘留物的定性及準確定量分析
適用于復雜基質中痕量化合物的精確定量分析,同時兼具定性分析功能

紅外光譜

適用于有機、無機、高分子、半導體、復合材料中氣態、液態、固態等復雜成分快速鑒定,微區分析、薄層分析、材料缺陷快速定位與分析
結構分析
物相定性、物相定量、晶胞參數、介孔材料小角衍射、納米材料微結構(晶粒尺寸、微應力)、Rietveld結構精修、高溫原位衍射(HTXRD)、低溫原位衍射(LTXRD)、高分辨衍射(HRXRD)、掠入射衍射(GID)、全反射(XRR)、微區衍射、殘余應力、織構、電場原位XRD、化學反應原位XRD檢測、常溫或中低溫下單晶結構解析等
微區拉曼光譜測量、拉曼mapping、偏振拉曼測試、溫場原位拉曼、電催化原位和鋰(空)電池原位拉曼測量、與原子力顯微鏡聯用、TERS等
常溫和高溫下樣品表面三維形貌、粗糙度、膜厚等,PFM/MFM/SKM/cAFM等多種模式成像,對微區的電學/磁性/力學性質等進行表征,與拉曼光譜聯用、TERS等
二維斷層掃描和三維無損成像研究樣品微觀結構與缺陷,包括形態、孔隙、裂紋等
粉體形貌分析、EDS定性半定量分析、STEM+HAADF成像、超薄片樣形貌分析、高分辨晶格像、離子減薄、選區電子衍射
形貌、定性分析、定量分析、面分布、線掃描
熱學性能
導熱性能測試:非穩態法(激光法、熱線法)和穩態法(保護熱流計法、熱流計法、平板法等);
比熱容測試;
熱膨脹系數、燒結溫度、軟化點、玻璃化轉變溫度、相變點、熱效應;
儲能模量、損耗模量、損耗因子Tan、粘度、三點彎曲、薄膜/纖維拉伸性能等。
保溫耐火材料測試:體積密度、真密度、氣孔率、吸水率、憎水率、含水(濕)率、加熱線變化、渣球含量、耐火度、纖維直徑分布、燃燒性能、燒失量、抗熱震性等。
熱分析:材料受熱過程中的質量變化及晶型轉變等物化反應中的熱效應,熱分解溫度及熱分解過程中逸出氣體成份表征。
超高溫激光共聚焦測試:高溫下材料組織結構變化(熔融、凝固、結晶等)的實時、原位、高清觀察與分析,高溫狀態下的拉伸、三點彎曲測試;
氣懸浮材料制備研究、形核實時觀察。
爐溫溫場測量、各類熱電偶及溫控儀表的校準等。
力學性能
抗壓強度、彎曲強度、抗剪強度、抗拉強度、洛式硬度、維氏硬度、顯微硬度、彈性模量、體積密度、吸水率、氣孔率。
電學性能
介電溫譜、介電頻譜、體積電阻率、抗電強度、電滯回線、偏置電場下的介電性能、熱釋電系數等。
閃爍材料表征與測試
分光光度計、量子效率測量系統、精密多道能譜儀、閃爍發光動力學測量儀等。
版權所有 中國科學院上海硅酸鹽研究所 滬ICP備05005480號-1
長寧園區地址:上海市長寧區定西路1295號 電話:86-21-52412990 傳真:86-21-52413903 郵編:200050
嘉定園區地址:上海市嘉定區和碩路585號  電話:86-21-69906002 傳真:86-21-69906700 郵編:201899